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SEM

Microscopio Electrónico de Barrido, (Scanning Electron Microscopy, SEM)

El Microscopio electrónico de barrido o SEM (Scanning Electron Microscopy), utiliza un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen ampliada de la superficie de un objeto. Es un instrumento que permite la observación y caracterización superficial de sólidos inorgánicos y orgánicos. Tiene una gran profundidad de campo, la cual permite que se enfoque a la vez una gran parte de la muestra.

El Microscopio Electrónico de Barrido HITACHI SU 3500 está dotado de un analizador EDX Bruker XFlash detector 410M con una resolución 133eV en la línea MnKα, lo cual permite analizar composición química presente en un área determinada. Las imágenes son tomadas con diferentes detectores dependiendo de la información que se necesite de la muestra. Detector de electrones secundarios (SE: Secundary Electron), da una imagen en blanco y negro, se utiliza para imágenes de alta resolución. Detector de electrones retrodispersados (BSE: Backscattered Electron), es sensible a variaciones del número atómico del (o los) elemento(s) presente(s) en la muestra, da menos resolución que el SE y se puede usar en superficies completamente lisas, ya que nos da una variedad de grises en función de la existencia de diferentes fases con demás elementos.

Su gran profundidad de campo que le da apariencia tridimensional a las imágenes permitiendo enfocar y observar amplias zonas de la muestra al mismo tiempo. Puede producir imágenes de alta resolución (de hasta 3 nm), es decir, que detalles muy cercanos en la muestra pueden ser observados separadamente a alta magnificación.

Se pueden observar muestras de tamaños desde centímetros hasta muestras del orden de nanómetros.

Aplicaciones generales del MEB por área de estudio

Arqueología, ciencia de materiales, análisis de fallas, corrosión y desgaste, fibras y textiles, metalurgia, nanotecnología, recubrimientos, películas delgadas, interfaces, semiconductores, tribología, ciencias biológicas, ciencias básicas, ciencias biomédicas, biotecnología, farmacia, medicina, odontología, ciencias forenses, estudios geológicos, ingeniería civil, ingeniería eléctrica y electrónica, ingeniería de alimentos, ingeniería mecánica, ingeniería química

La preparación de las muestras es relativamente sencilla, las principales características son: muestra sólida, conductora. Caso contrario, la muestra es recubierta con una capa de carbón o una capa delgada de un metal como el oro para darle propiedades conductoras a la muestra. De lo contrario, las muestras no conductoras se trabajan en bajo vacío.

Servicios del SEM

Ofrece estudios de morfología y análisis elemental (cualitativo y semicuantitativo) por espectroscopia de energía dispersiva (EDS) a superficies de muestras sólidas y determinación de espesores de recubrimientos, identificación de contaminantes en dispositivos electrónicos, metales, cerámicos, por SEM.
• Análisis morfológico superficial mediante imagen de electrones secundarios (SE) y análisis de composición y topografía mediante imagen de electrones retrodispersados (BSE).
• Análisis morfológico y químico de: materiales conductores en modo alto vacío, materiales no conductores en modo bajo vacío.
• Media y alta resolución hasta 500 X de magnificación y 1 nm de resolución.
• Análisis elemental por EDS (se pueden identificar elementos desde 1% wt, desde el carbono hasta einstenio).
• Determinación de tamaño de partícula.
• Determinación de espesores de recubrimientos (en la mayoría de los casos las muestras requieren un corte transversal, ser pulidas y químicamente atacadas).
• Análisis de falla de materiales en general.
• Determinación elemental de contaminantes en materiales sólidos (cerámicos, metálicos, polímeros, dispositivos electrónicos, recubrimientos, etc.).
• Mapas de Rayos-X en imagen de electrones secundarios o retrodispersados, los cuáles permiten conocer la distribución de elementos presentes.
• Determinación de textura en materiales cristalinos (se requiere conocer la cristalografía del material a analizar y una preparación especial).
• Estudio de interfase en materiales, valoración del deterioro de materiales.
• Comparación morfológica y de composición química de materias primas, materiales, productos finales, etc.

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